型号：JSM-7100F
厂商：JEOL
深圳总部
1. 普通透射（形貌观察）；
2. 高分辨透射：相组织的观察（形貌观察）；
3. 选区电子衍射（晶体结构分析）晶体结构；
4．微区化学元素成分半定量和定量分析
1.点分辨率：0.23 nm ;
2.晶格分辨率：0.14 nm;
3.放大倍数准确性：10%;
4.样品最大倾角：±30度
1. 样品可以是粉末；
2. 样品可以是制备好的超薄块状；
3. 样品必须是稳定的，在电子轰击下不发生变化；
4. 固体块状样品需切片后检测；
5. 样品无毒，无辐射，无挥发，磁性样品请说明
温馨提示：不同型号的设备对样品有不同的要求，样品测试申请者务必看清设备对样品的要求。
