Tecnai G2 F30 是一个真正多功能，多用户环境的先进仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、HRSTEM、电子衍射、EFTEM、EDX、EELS和Lorentz透镜等)一体化，形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。

加速电压：300KV 

电子枪：肖特基场发射电子枪

分辨率:   点分辨率：0.205 nm 　　

线分辨率：0.102 nm       

信息分辨率：0.14nm     

HR STEM分辨率：0.16nm

EELS分辨率：0.65eV    

EDX分辨率：136eV

放大倍数:    

      TEM 模式  60X—1000KX

      HAADF STEM模式  200X—100M

1. 样品可以是粉末；

2. 样品可以是制备好的超薄块状；

3. 样品必须是稳定的，在电子轰击下不发生变化；

4. 固体块状样品需切片后检测；

5. 样品无毒，无辐射，无挥发，磁性样品请说明

温馨提示：不同型号的设备对样品有不同的要求，样品测试申请者务必看清设备对样品的要求。